GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 Semiconductor integrated circuit- Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory (DDR3 SDRAM)

本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM）功能验证和电参数测试的方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM)功能验证和电参数测试。GB/T 36474-2018 　　　　半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机 存 储 器 （ DDR3 SDRAM ） 测 试 方 法 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 Semiconductor integrated circuit- Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　memory (DDR3 SDRAM) 2018-06-07发 布 2019-01-01实 施 　 　 　 　 　 　 　 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 磋 冬 活 ， f？ ？ ？ r。 ＼吊酮藕戳甑巅荟发布 代 器 躐 ？ 翳 刮 涂 层 查 亮 伪 ／ GB/T 36474-2018 目 次 前 言 ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？