GB/T 42789-2023 硅片表面光泽度的测试方法

本文件描述了采用光反射法以20°、60°或85°几何条件测试硅片表面光泽度的方法。 本文件适用于硅腐蚀片、抛光片、外延片表面光泽度的测试，不适用于表面有图形的硅片的测试。