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KS C IEC 62276-2019 Single crystal wafers for surface acoustic wave(SAW) device applications — Specifications and measuring methods KS C IEC 62276-2019 Single crystal wafers for surface acoustic wave(SAW) device applications — Specifications and measuring methods

KS C IEC 62276-2019 Single crystal wafers for surface acoustic wave(SAW) device applications — Specifications and measuring methods

  • 标准类别：
  • 标准大小：
  • 标准编号：KS C IEC 62276-2019
  • 标准状态：现行
  • 更新时间：2023-09-27
  • 下载次数：次
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