JJF 1029-2024 电子探针定量分析用标准物质研制(生产)技术要求

电子探针显微分析(ElectronProbeMicroanalysisEPMA)是利用高能电子束与固体样品相互作用在样品的微米尺度上激发出特征X射线、二次电子、背散射电子、阴极荧光等信号通过这些信号进行成分、形貌、结构等显微分析。电子探针显微分析包括成分、形貌、结构等显微分析其中成分分析包括定性分析和定量分析电子探针定量分析的基本原理是通过测量、比较未知样品和已知元素含量的标准物质中微米尺度上元素的特征X 射线强度并经过校正计算获得未知样品的微区元素含量。标准物质作为电子探针定量分析中采用的实物标准对于定量分析结果的准确性具有至关重要的作用。 本规范对电子探针定量分析用标准物质的均匀性和稳定性评估、化学成分的定值等给出了具体的指导。相关技术要求参考采用了ISO14595微束分析-电子探针显微分析-标准物质技术规范(Microbeamanalysis-Electronprobemicroanalysis-Guidelinesforthespecificationofcertifiedreferencematerials(CRMs))中的有关内容。 本规范代替JJF 1029-1991 《电子探针定量分析用标准物质研制规范》。与JJF1029—1991相比主要修订了包括均匀性评估中抽样原则、评估方法、数据处理 和接受准则等稳定性评估中新增了长期稳定性评估要求。新增不确定度评定相关章节。 本规范的历次版本发布情况: ———JJF1029—1991。