熔断器之间的保护选择性

关于保护的选择性，本信息有多篇文章，欢迎阅读。

请点击阅读：

一张图看清楚保护选择性；

保护选择性的类型；

现实中常被忽视的保护选择性；

断路器区域选择性联锁（ZSI）试验报告。

接上篇文章：一张图看清楚保护选择性，首先介绍熔断器之间的保护选择性，《低压隔离电器和熔断器选用和使用导则》T/CEEIA 301-2018、《全国民用建筑工程设计技术措施（电气）》2009版等文献有详细要求。

本信息也介绍过熔断器的类型，请参阅：重新认识熔断器！

• 符合GB/T13539.2-2015的相同类型的熔断器（如gG），当额定电流≥16A，通过确定其额定电流比为1.6:1或更高，则熔断器满足全选择性要求，用户不需进行另外验证。

• 对于额定电流15A以上的gN或gD熔断器，其额定电流比为2:1。

• 当熔断时间≥0.1s时，熔断体之间的选择性通过时间-电流特性进行验证，如图1所示。

• 当熔断时间＜0.1s时，熔断体之间的选择性通过弧前I²t和熔断I²t值进行验证。

需要说明，熔断器制造厂将提供在额定电压下假定非常低的阻抗短路故障时的熔断I²t值。实际使用中，在熔断期间，由于故障时的阻抗及出现在熔断器两端的实际电压，允通I²t值通常较低。

1、熔断时间≥0.1s时选择性验证

如图1所示，对每个预期电流值，熔断器F4的最大熔断时间应小于F2的最小弧前时间。

图1 熔断时间≥0.1s时，熔断器F₂和F₄之间选择性验证

图中：1——最大熔断时间；2——最小弧前时间。当熔断体特性仅以一根曲线表示时，制造厂应规定误差。

2) 熔断时间＜0.1s时选择性验证

对此熔断时间，应考虑I²t值。熔断器F4的最大熔断I²t值必须小于熔断器F2的最小弧前I²t值。