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GB/T 43793.3-2024 平板显示用彩色光刻胶测试方法 第3部分:可靠性
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2024-05-06 07:00:01浏览:3
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GB/T 43793.2-2024 平板显示用彩色光刻胶测试方法 第2部分:光学性能
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2024-05-05 23:15:02浏览:3
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GB/T 43736-2024 精密光频测量中光学频率梳性能参数测试方法
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2024-05-05 21:45:01浏览:3
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GB/T 43793.1-2024 平板显示用彩色光刻胶测试方法 第1部分:理化性能
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2024-05-04 22:15:02浏览:5
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GB/T 43590.503-2024 激光显示器件 第5-3 部分:激光投影显示(屏)图像质量测试方法
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2024-04-22 00:00:01浏览:4
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YD/T 3330-2018 支持通信应用的北斗授时设备测试方法 含2024年第1号修改单
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2024-04-20 07:30:01浏览:4
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GB/T 1558-2023 硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
本文件描述了硅中代位碳原子含量的红外吸收测试方法。
本文件适用于电阻率大于3 Ω·cm的p型硅单晶片及电阻率大于1 Ω·cm的n型硅单晶片中代位碳原子含量的测试(室温下测试范围:5×1015 cm-3至硅中碳原子的最大固溶度;温度低于80 K时测试范围:不小于5×1014 cm-3)。
标准号:GB/T 1558-2023
标准名称:硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
英文名称:Test method for substitutional carbon content in silicon by infrared absorption
发布日期:2023-12-28
实施日期:2024-07-01
替代标准:GB/T 1558-2009
引用标准:GB/T 8170 GB/T 8322 GB/T 14264 GB/T 29057 GB/T 35306
起草人:李静 何烜坤 刘立娜 李素青 索开南 马春喜 薛心禄 张雪囡 张海英 孙韫哲 王彦君 沈益军 赵跃 王军锋 李兰兰 邹剑秋 徐顺波 李寿琴 张宝顺 刘国霞 徐岩 李明达 陆勇 皮坤林 杜伟华
起草单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所、青海芯测科技有限公司、天津中环领先材料技术有限公司、浙江金瑞泓科技股份公司、山东有研半导体材料有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、布鲁克(北京)科技有限公司、中国计量科学研究院、有色金属技术经济研究院有限责任公司、开化县检验检测研究院、四川永祥新能源有限公司、亚洲硅业(青海)股份有限公司、新疆新特新能材料检测中心有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、中电晶华(天津)半导体材料有限公司、浙江众晶电子有限公司、义乌力迈新材料有限公司、湖南三安半导体有限责任公司
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)...2024-04-19 23:45:01浏览:3
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JB/T 8537-2023 粉尘比电阻实验室测试方法
本文件规定了粉尘比电阻实验室测试原理、测试装置、测试程序和测试报告。
本文件适用于比电阻小于103Ω·cm导电性粉尘的实验室圆盘法比电阻测试活动。
替代JB/T 8537-2010...2024-04-19 12:45:01浏览:6
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