GB/T 17554.3-2006识别卡.测试方法.第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices

GB/T17554《识别卡测试方法》拟分为7个部分:-第1部分:一般特性测试-第2部分:磁条卡-第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备-第4部分:无触点集成电路卡-第5部分:光记忆卡-第6部分:接近式卡-第7部分:邻近式卡本部分为GB/T17554的第3部分。修改采用国际标准ISO/IEC10373-3:2001《识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备})(英文版)。本部分与ISO/IEC10373-3:2001相比,增加和修改了下列内容:a)增加了4.6.2.2参数定义;b)附录A中增加了A.1.2点压力测试,:c)附录A因增加A.1.2,其编号作了编辑性修改。根据新版识别卡带触点的集成电路卡物理特性标准做了以上修改。本部分的附录A是资料性附录。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所归口。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所。本部分主要起草人:冯敬、蔡怀忠、耿力、金倩、刘华茂。