首页 > 集成电路
  • JR/T 0025.17-2013 中国金融集成电路(IC)卡规范 第17部分:借记/贷记应用安全增强规范 China financial integrated c...2024-02-22
  • YD/T 3515-2019 支持远程管理的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)测试方法(第一阶段) Test specification of embedded UICC...2024-02-22
  • PD IEC/TR 61967-1-1-2015 集成电路 电磁辐射测量 一般条件和定义 近场扫描数据交换格式 Integrated circuits. M...2024-02-05
  • YD/T 3036-2016 通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性技术要求 Technical specification for USB characterist...2024-01-30
  • IEC TS 62132-9-2014 集成电路--电磁抗扰度的测量--第9部分:辐射抗扰度的测量--表面扫描法 Integrated circuits - Me...2024-01-05
  • GB/T 43035-2023 半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求 正式版...2023-12-28
  • GB/T 43034.3-2023 集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分:非同步瞬态注入法 正式版2023-12-28
  • GB/T 43041-2023 混合集成电路 直流/直流(DC/DC)变换器 正式版2023-12-24
  • GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义 正式版2023-12-24
  • GB/T 43040-2023 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 正式版2023-12-23
  • GB/T 43228-2023 宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求 正式版2023-12-22
  • GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 正式版2023-12-22
  • JIS X6320-4-2017 识别卡--集成电路卡--第4部分:交换用组织、安全和命令 Identification cards - Integrated circuit...2023-11-02
  • SJ/T 11875-2022 电动汽车用半导体集成电路应力试验程序2023-10-25
  • GB/T 43041-2023 混合集成电路 直流直流(DCDC)变换器2023-10-19
  • GB/T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法2023-10-19
  • GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器2023-10-18
  • GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法2023-10-18
  • GB/T 43040-2023 半导体集成电路 ACDC变换器测试方法2023-10-18
  • GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)2023-10-18
  • GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法2023-10-18
  • GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法2023-10-18
  • IEC 63011-2-2018 集成电路--三维集成电路--第2部分:具有细间距互连的堆叠模具的对准 Integrated circuits – ...2023-09-30
  • 3D集成手册 3D集成电路技术与应用 (美)菲利普·加罗,克里斯多夫·鲍尔,(德)彼得·兰姆 著 2017年版...2023-09-29
  • GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法2023-09-29