SJ/T 11207-1999钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films SJ/T 11207-1999钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films

SJ/T 11207-1999钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films

  • 标准类别:[SJ] 电子行业标准
  • 标准大小:
  • 标准编号:SJ/T 11207-1999
  • 标准状态:现行
  • 更新时间:2022-07-21
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