GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法 Semiconductor integrated circuits-Measuring method of analogue switch

本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。GB/T 14028-2018 　代替GB/T 14028-1992 　半导体集成电路 模拟开关测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of analogue switch 2018-03-15发 布 2018-08-01实 施 　 　 　 　 中 华 人 民 共 和 国 国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 嵯 ～ ， 。 严 气 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 ～ p 德 懿 、李 GB/T 14028-2018 目 次 前 言 ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 土 1范 围 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？