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BS EN 60749-4-2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验(HAST) 部分替代BS EN 60749:1999 Semiconductor Devices. Mechanical And Climatic Test Methods. Damp Heat,Steady State,Highly Accelerated Stress Test (Hast) BS EN 60749-4-2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验(HAST) 部分替代BS EN 60749:1999 Semiconductor Devices. Mechanical And Climatic Test Methods. Damp Heat,Steady State,Highly Accelerated Stress Test (Hast)

BS EN 60749-4-2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验(HAST) 部分替代BS EN 60749:1999 Semiconductor Devices. Mechanical And Climatic Test Methods. Damp Heat,Steady State,Highly Accelerated Stress Test (Hast)

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  • 标准编号：BS EN 60749-4-2017
  • 标准状态：现行
  • 更新时间：2023-08-29
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