GB/T 39560.5-2021 电子电气产品中某些物质的测定 第5部分:AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物和电子件中镉、铅、铬以及金属中镉、铅的含量 Determination of certain substances in electrical and electronic products- Part 5: Cadmium, lead and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in metal
- 标准类别:[GB] 国家标准
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- 标准编号:GB/T 39560.5-2021
- 标准状态:现行
- 更新时间:2023-09-14
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GB/T 39560的本部分描述了AAS,AFS,ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中铅、镉和铬的方法。
本部分规定了电子电气产品中镉(Cd)、铅(Pb)和铬(Cr)含量的测定。它涵盖了三种类型的基体:聚合物/聚合物组件、金属及合金和电子件。
本部分中的样品是指处理和检测的对象。样品及其获得方式由实施检测的机构确定。为检测电子产品中限用物质的含量,如何从中获得其代表性样品的进一步指南见IEC 62321-2。样品的选择和/或测定可能影响对检测结果的解释。
本部分规定了电子电气产品中j(Cd)、铅(Pb)和铬(Cr)含量的测定方法,介绍了四种仪器的检测方法(AAS、AFS、ICP-OES、ICP-MS)以及几种样品化学前处理方法(样品溶液的制备),可以从中选择最合适的方法。
由于聚合物和电子件中的六价铬有时难以测定,本部分描述了除AFS以外的聚合物和电子件中铬的筛选方法。铬的分析能提供材料中是否存在六价铬的信息。然而,元素分析不能选择性地测定六价铬,它测定的是样品中的总铬含量。如果总铬含量超过六价铬的限量,则应进行六价铬的确证检测。
本部分所述的ICP-OES和AAS法在测定含量高于10mg/kgPb、Cd和Cr;或者ICP-MS法测定高于0.1mg/kg的Pb、Cd;或者AFS法测定高于10mg/kg的Pb,高于1.5mg/kg的Cd时,可获得最好的准确度和精密度。这些方法也可以测试更高含量的样品。
因为材料稳定性的关系,本部分不适用于含多氟聚合物的样品。如果在分析过程中使用硫酸,则存在Pb损失的风险,从而会得到错误的偏低的分析值。此外,因为可能干扰Cd的还原,硫酸和氢氟酸不适合于原子荧光光谱法测定Cd。
样品的溶解过程存在局限性和风险,例如可能发生目标物或其他元素的沉淀,在这种情况下,残留物应单独检查或用其他方法溶解,然后与测试样品溶液合并。/T 39560.5-2021 /IEC 62321-5:2013
电子电气产品中某些物质的测定
第 5部 分 :AAS 、 AFSJCP OEs和 ICP-MS法
测定聚合物和电子件中镉 、 铅 、 铬以及
金属中镉 、 铅的含量
Determination of certain substances in electrical and electronic products-
Part 5: Cadmium, lead and chromium in polymers and electronics and cadmium
and lead in metals by AAS, AFS, ICP-OES and ICP-MS
GEC 62321-5:2013, Determination of certain substances in electrotechnical
products-Part 5:Cadmium,lead and chromium in polymers and electronics
and cadmium and lead in
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