GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS,low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。
本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。GB/T 35007-2018 　　　半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 　 　 　 　 　 　 　 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of low voltage differential signaling circuitry 2018-03-15发 布 2018-08-01实 施 　 　 　 　 　 中 华 人 民 共 和 国 国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 去 众 丫 、 村 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 ‘ GB/T 35007-2018 目 次 刖 言 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ m 1范 围 ？...............